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真空技術(shù)

TFT基板結(jié)構(gòu)及原理

2019-03-04 點(diǎn)擊數(shù):1011

TFT基板結(jié)構(gòu)及原理

第一道工序(Mask):簡稱G工程。玻璃基板上做柵極(Gate),柵極上加正電壓;氮化硅(SiNx)覆蓋柵極層,隔離接下來要制作的非晶硅層(a-Si)。控制線加在柵極上。

Gate電極通常由兩層金屬組成,分別為鉬/鋁銣合金(Mo/AlNd)。PVD形成。厚度:鉬1000埃,鋁銣2000埃。PR厚度15000埃,曝光強(qiáng)度21mj/cm2。(1參考)

第二道工序:簡稱I工程(Island。形成TFT島,其實(shí)是IC工藝的翻版,當(dāng)柵極上加有正電壓時,非晶硅層便有電流流過,方向?yàn)樵礃O到漏極。

TFT島包括:SiNxa-Si,n+ a-Si等層。PECVD分步形成,膜厚約為2000埃。只需一次干刻。(圖2參考)

 

第三道工序:簡稱D工程。制作源極、漏極(S/D)。在源漏極與TFT島之間要形成一層n+ a-Si,主要是確保非晶層與源漏極之間為歐姆接觸。信號線加在源極上。S/D電極主要由鉬//鉬三層膜組成,膜厚500/2000/500埃,PVD法形成。此時的曝光強(qiáng)度為28mj/cm2。

 

第四道工序:簡稱C工程。制作接觸孔,以便S/D信號可靠地引入ITO電極。PECVD法形成p-SiNx膜(膜厚2000埃),RIE法刻蝕。(圖3參考)

 

第五道工序:簡稱PI工程。形成ITO透明像素電極。ITO像素電極覆蓋漏極,公共電極和存儲電容。PVDITO濺射成膜(膜厚500埃),3.4%的草酸刻蝕。(圖4參考)

上述便是常用的5MASK工藝。除此之外,還要在源漏極上面形成絕緣和隔離用的鈍化層。

5MASK工藝中,每道工序均要經(jīng)過清洗、成膜、涂布、曝光、(打碼)、顯影、干濕刻、PR剝離等7道主要工序。

 

簡述流程如下:

基板投入---清洗(異物檢查)---成膜(金屬膜用PVD濺射,非金屬膜用PECVD---涂布(Toray Coater---曝光---顯影---刻蝕(金屬膜用濕刻,非金屬膜用干刻)---PR剝離PR開始作為刻蝕掩模存在,此時不再需要,用剝離液將其去除)---測試。

 

以下是對上述各工序的概括說明:

清洗:

清洗的目的是去除污染物,這些東西往往來源于玻璃基板包裝,加工中化學(xué)反應(yīng)的生成物,人體的毛皮等等??傮w來說可分為有機(jī)物和無機(jī)物。

去除有機(jī)物可用UV分解清洗法,低壓水銀燈光波波長185nm254nm,照射70秒。也可用藥液噴淋。去除無機(jī)物可用二流清洗(氣泡在玻璃基板表面破裂時產(chǎn)生沖擊波,使粒子從基板脫離)和超聲波清洗法。超聲波頻率為1.5Mhz,主要去除小直徑的微粒。清洗后還會用到“風(fēng)刀”干燥。

 

成膜:

成膜分金屬膜和非金屬膜。

金屬膜采用PVD,即物理氣相淀積的方式成膜,又叫濺射(Sputter),日本真空公司的設(shè)備市場占有率大。

非金屬膜采用CVD,即化學(xué)氣相淀積法成膜,與半導(dǎo)體工藝相同,主要采取等離子CVDPECVD的方式成膜,美國AKT公司(應(yīng)用材料公司)幾乎壟斷了該行業(yè)。PECVD成膜膜種包括:G-SiNx(柵極開關(guān))、L-a Si(電子溝道)、H-a Si(降低光電流)、n+ a Si(信號線傳輸)、PA-SiNx(保護(hù)層,抗腐蝕)

 

PR涂布:

涂布有Spin方式和Slit方式兩種。將光刻膠(PR,光阻)均勻涂布到玻璃基板表面的工序。原理及其簡單,但性能要求卻極高,涂布是TFT制造中極關(guān)鍵的工序之一。日本ToraySlit涂布機(jī)供不應(yīng)求。

 

曝光:

曝光就是要將MASK上的圖形轉(zhuǎn)移到涂布好的玻璃基板上。原理簡單得不得了,但精度要求極高,曝光機(jī)是最昂貴的設(shè)備,6代線曝光機(jī)在美金1千萬左右。日本尼康、佳能兩家公司獨(dú)占TFT工廠。

 

顯影:

顯影就是將曝光后感光部分的光刻膠溶解并去除,留下未感光部分的光刻膠,從而形成圖形。

光刻膠有正膠、負(fù)膠,負(fù)膠就是感光了的光刻膠留下。顯影液通常為堿性物質(zhì)。如KOHNaOH等。

刻蝕:

上面提到的經(jīng)過顯影留下來的光刻膠成了保護(hù)掩模,未被保護(hù)的薄膜將通過刻蝕工藝去除。

濕法刻蝕,通常有三種濕法刻蝕方式:噴淋、涂槳、噴淋+浸潤。在5MASK工藝中,濕法刻蝕應(yīng)用在G工程、D工程和PI工程上。

干法刻蝕,也有三種方式:PE,RIE,ICP,日本TEL公司實(shí)力強(qiáng),但越來越受YAC公司的擠壓。干法刻蝕應(yīng)用工序:I-DE;PR-DE,CH-DE,C-DE。(IIsland;PRPhotoResist;CHChannelDEDryEtch)(圖5參考)

 

PR剝離:

將刻蝕完成后的光刻膠去除。(感光后的用顯影,掩模的用剝離。)

玻璃液成分:DMSOMEA=73(重量比)[DMSO使PR蓬松,MEA浸透劑]

5MASK之后均有玻璃工序。


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